Спектрофотометр Hitachi UH4150

Описание оборудования

Спектрофотометр U-4100 долгое время был одним из лучших приборов в области твердофазной спектрофотомерии.

Теперь на смену ему вышла более совершенная модель - UH4150, которая унаследовала надежность предыдущих поколений приборов.

Характеристики: 

1)  Крайне небольшие перепады уровней сигналов при переключении детекторов с одной длинны волны на другую обеспечивают высокоточные измерения.

В интегрирующей сфере установлено несколько детекторов для выполнения измерений в широком диапазоне длин волн: от ультрафиолетового до видимого и ближнего инфракрасного диапазонов. Изменения фотометрических значений при переключении детекторов (из-за разницы уровней сигналов) сводятся к минимуму благодаря конструкции, в которой используется опыт Hitachi в интеграции сферической конструкции, технологий обработки сигналов и многое другое.

Пример спектра поглощения золотых  наностержней  

около длины волны переключения детектора (850 нм)

2)  Низкий уровень рассеянного света и низкая поляризация достигаются с помощью эффективной системы двойного монохроматора Hitachi с призматической решеткой.

UH4150 использует оптическую систему с двойным монохроматором с призматической решеткой (P-G). Значительные изменения интенсивности света S- и P-поляризации менее вероятны для системы «призма-решетка» (P-G), чем для системы «решетка-решетка» (G-G), которая обычно используется. UH4150 позволяет проводить измерения с низким уровнем шума даже для образцов с малым коэффициентом пропускания и отражения.

3)  Коллимированный световой луч позволяет точно измерять отраженный и рассеянный свет.

Угол падения важен для измерения зеркального отражения твердых образцов. Для сфокусированного светового луча угол падения изменяется в зависимости от фокусного расстояния линзы и прочее. Следовательно, теоретически рассчитанные значения для моделей структур оптических тонких пленок, таких как диэлектрическая многослойная пленка и призма, будут отличаться от фактических измеренных значений. Однако в случае коллимированного светового луча угол падения всегда одинаков по отношению к образцу, что приводит к высокоточному измерению зеркального отражения. Кроме того, коллимированный световой луч полезен для оценки коэффициента диффузии (мутности) и измерения коэффициента пропускания линз.

Пример измерения зеркального отражения

4)  Широкий выбор детекторов для различных измерений.

Доступны восемь типов интегрирующих сфер из разных материалов, размеров и форм.







5)  Новый эргономичный дизайн.

Для улучшения работы была модифицирована дверца отсека для образцов. Разработан эргономичный дизайн с учетом возможности проведения замены образцов и аксессуаров.

6)  Совместим со многими аксессуарами, которые были разработаны для U-4100.

Для обеих моделей доступны одинаковые аксессуары.

Аксессуары, используемые с моделью U-4100, также могут использоваться с моделью UH4150. Поскольку аксессуары съемные, то они помогают выполнить широкий диапазон типов измерений.

7)  Пропускная способность выше, чем у модели U-4100.

В предыдущей модели скорость сканирования 600 мм/мин была необходима для измерений с использованием интервала 1 нм. Модель UH4150 позволяет выполнять измерения с интервалом 1 нм при скорости сканирования 1200 нм/мин, что значительно сокращает время измерения. UH4150 измеряет в диапазоне длин волн от 240 до 2600 нм примерно за две минуты. Прибор эффективен для анализа образцов, требующих измерения в диапазоне длин волн УФ-ВИД-БИК, например, для материалов, отражающих солнечное излучение.

Спектр отражающего солнце материала при скорости сканирования 600 нм/мин	Спектр отражающего солнце материала при скорости сканирования 1200 нм/мин

Больше информации о UH4150 вы можете узнать из брошюрки.